Subjects: FÍSICA (ESTUDO E ENSINO) (CONGRESSOS), RADIAÇÃO IONIZANTE (EFEITOS)
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ABNT
OLIVEIRA, Juliano Alves de et al. Electronic system for data acquisition to study radiation effects on operating MOSFET transistors. 2013, Anais.. São Paulo: SBF, 2013. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvi/sys/resumos/R0016-3.pdf. Acesso em: 10 maio 2024.APA
Oliveira, J. A. de, Mello, M. A. A. de, Silveira, M. A. G. da, & Medina, N. H. (2013). Electronic system for data acquisition to study radiation effects on operating MOSFET transistors. In . São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvi/sys/resumos/R0016-3.pdfNLM
Oliveira JA de, Mello MAA de, Silveira MAG da, Medina NH. Electronic system for data acquisition to study radiation effects on operating MOSFET transistors [Internet]. 2013 ;[citado 2024 maio 10 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvi/sys/resumos/R0016-3.pdfVancouver
Oliveira JA de, Mello MAA de, Silveira MAG da, Medina NH. Electronic system for data acquisition to study radiation effects on operating MOSFET transistors [Internet]. 2013 ;[citado 2024 maio 10 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvi/sys/resumos/R0016-3.pdf
